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JW-BK200C高性能比表面分析仪


测试范围:比表面积0.005(m2/g)至无上限;介孔、大孔分析2nm-500nm

微孔分析0.35nm-2nm;总孔体积0.0001cc/g至无上限;

重复精度:比表面积≤±1.0%;外表面积≤± 1.5%;微孔孔径≤0.01nm;真密度≤±0.04% 

2个样品分子站原位设有2套独立的升降系统,电动控制、自动控制,且互不干扰;