UP-2000是一款全自动白光干涉仪和先进的3D光学剖面仪，旨在快速、准确且非接触式表面表征。它能够实现高速亚纳米级的表面粗糙度、阶高、薄膜厚度和地形分析，非常适合高要求的科研、开发和质量控制应用。其直观操作使用户能够以最少的设置完成精确测量，提高生产力和重复性。UP-2000 为符合 ISO 标准的表面计量标准而设计，能够为各种材料和行业提供可靠、高分辨率的数据，支持常规检查和高级分析流程，精度极高。