比表面积及孔径分布，是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之一，常用、可靠的方法是静态容量法气体吸附。JW-BK200系列高性能物理吸附仪即能准确可靠解决粉体材料比表面积及孔径分析问题，该系列产品根据测试功能不同区分为A、B、C三种型号，其中高端C型研究级设备因双站均配置有超低压1torr或0.1torr压力传感器，及10-8Pa超低真空度涡轮分子泵，可有效解决分子筛、催化剂、活性炭等多微孔样品的高效率超微孔分析。
测试原理
