专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量。

测试环境温度范围达到81K~700K。

采用动态法测量Seebeck系数，避免了静态测量在温差测量上的系统误差，测量更准确。

采用四线法测量电阻率。

热电偶探针经过严格的筛选配对保证测试结果的准确和稳定。

软件操作简单，智能化可实现全自动模式。